欽州導桿壓降測試儀陽極澆鑄質(zhì)量檢測儀ZA-500T中銳使用方法

更新時間：2024-02-22 10:22:01 瀏覽數(shù)：34
所屬行業(yè)：儀表儀器>實驗儀器裝置>其他實驗儀器裝置
發(fā)貨地址：青島
產(chǎn)品型號：ZA
供應數(shù)量：99臺
包裝說明：鋁合金箱
單價：200.00元/臺

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產(chǎn)品詳情

< align="left" style="margin-to:0x;margin-bottom:0x;-webkit-ta-highlight-color:rgba(0, 0, 0, 0);box-sizing:border-box;adding:0x;color:#333333;background-color:#FFFFFF;font-family:null;"> ZA-500T電解槽鐵碳壓降測試儀
導桿壓降測試儀是一種用于測量導桿在特定電壓下的電阻和壓降的儀器。它采用先進的電子，度高，操作簡便，是電力、電子、電器制造、科研開發(fā)等行業(yè)中必備的測試工具。該儀器可廣泛應用于導桿的選型、生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制以及老化測試等環(huán)節(jié)。使用導桿壓降測試儀，可以確保設備的正常運行，提高生產(chǎn)效率，降低安全風險。在電解鋁生產(chǎn)行業(yè)，電解槽壓降是關系能耗的一個重要指標，通過了解壓降知道電解槽的質(zhì)量，
我公司針對這種情況研發(fā)生產(chǎn)電解槽壓降測試儀，可以檢測電解槽陽極導桿壓降
可根據(jù)測試電壓來反應陽極導桿上電流情況，鐵碳模塊(陽極炭塊、陰極炭塊)及鋼棒頭
焊接的組裝質(zhì)量,以便篩查選用合格的鐵碳模塊，為電解鋁企業(yè)節(jié)省大量的電費。同時根據(jù)測量數(shù)
據(jù)對不合格的電解槽進行處理。半導體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAccetanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecie自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。設備具有數(shù)據(jù)存儲、導出功能，降低工人勞動強度，提率。
二、性能特點
1、設備電流大精精度高，一鍵式操作，自動化程度高。
2、采用電子式原理線路結(jié)合DSP采用大屏幕漢字液晶顯示，所有操作均由漢字菜單提示。
3、數(shù)據(jù)具備掉電存貯及瀏覽功能，能與計算機聯(lián)機傳送數(shù)據(jù)
3、數(shù)據(jù)記錄、查詢、刪除功能：設備具備測試數(shù)據(jù)存儲記錄，對歷史數(shù)據(jù)可查閱；
4、數(shù)據(jù)導出功能：儀表通過數(shù)據(jù)線連接到電腦上，進行數(shù)據(jù)儲存、編譯；
5、具有優(yōu)異的扛電磁干擾性能，在電解槽強磁干擾的工作環(huán)境中，依然保證儀器的精度。
三、參數(shù)
1、量程：0-1000mv 分辨率：0.01mv&nbs; 精度：0.5﹪，
2、電流：0-200000A（客戶選定）
3、顯示:10寸彩色液晶屏
TI提供行業(yè)款也是一款規(guī)模量產(chǎn)的單芯片CMOS毫米波傳感器。傳統(tǒng)汽車雷達系統(tǒng)的局限性已經(jīng)眾所周知，傳統(tǒng)雷達缺乏分辨率，無法分辨附近的物體。此外，雷達系統(tǒng)還常常發(fā)出報，并且它們始終無法足夠快地處理信息，以滿足高速應用。不過，汽車也認識到雷達的優(yōu)點，尤其是它們能夠在各種天氣條件下工作的優(yōu)勢。他們認為雷達可以和視覺傳感器一起協(xié)作，作為高度自動化車輛中的關鍵傳感。人們已經(jīng)充分了解了雷達系統(tǒng)的優(yōu)勢和劣勢，那么問題來了，雷達該往什么方向發(fā)展呢？TexasInstruments（TI，德州儀器）希望用基于其標準芯片來回答這個問題。不需要“先進”數(shù)字測試性能；但對于測試靈活性和功能的需求較大的情況，高速數(shù)字模塊則尤其重要。測試系統(tǒng)和相關的數(shù)字子系統(tǒng)可以支持傳統(tǒng)和當代電子組件組合的測試，因為這種測試系統(tǒng)被廣泛用于現(xiàn)場服務產(chǎn)品以及在工廠中測試新代產(chǎn)品。更具體地說，現(xiàn)場部署的測試系統(tǒng)（中所示的VIPER/T）具有尺寸和功耗的附加限制—要求系統(tǒng)具有便攜式，并且具有高可靠性。：VIPER/T測試系統(tǒng)數(shù)字子系統(tǒng)相關的功能包括：支持至少50MHz的矢量速率，每個引腳的時序，多個時間集和靈活的定序器。
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