系統(tǒng)描述AOI是檢測PCB表面圖形品質(zhì)(如表面缺陷、斷路和短路)的設(shè)備,用于生產(chǎn)過程中半成品品質(zhì)檢測,是高精密單層印制板,尤其是多層印制板加工的關(guān)鍵。測試系統(tǒng)集光學(xué)、精密機(jī)械、識別診斷算法和計(jì)算機(jī)于一體。檢測時,機(jī)器通過電荷耦合器件(CCD)或激光自動掃描PCB,采集圖像后送與計(jì)算機(jī)處理,再與數(shù)據(jù)庫中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)比較,查出PCB上缺陷,用顯示器或自動標(biāo)識系統(tǒng)顯示或標(biāo)識缺陷,供維修人員修理。項(xiàng)目產(chǎn)品清單主控設(shè)備:研祥EPI整機(jī)IPC-685E該主控設(shè)備的主板是一款采用IntelG41芯片組,支持IntelLGA775封裝雙核、四核E53、E84、Q94等系列CPU的高性能平臺;支持2條8/166M的DDR3內(nèi)存條,總?cè)萘恐С?GB;板載1個1/1/1Mbs網(wǎng)絡(luò)接口;支持VGA+VGA雙顯示功能;支持4個SATA接口;USB2.接口、2個串口(其中1個支持RS-232/RS-422/RS-485)、1個并口等豐富的I/O接口。所以選擇示波器和帶寬時至少要選擇被測量方波信號的5次諧波頻率以上的帶寬。的選擇示波器是無法直接對信號進(jìn)行測量的,必須通過一個物理連接將信號傳輸?shù)绞静ㄆ鲀?nèi)。這種物理連接就是。對高速信號測量來說至關(guān)重要。普通無源一般有1:1和10:1兩種。這兩種除了衰減比例不同外,還會對高速信號產(chǎn)生很大的差異。想要解釋這個問題,需要現(xiàn)討論一下的一個關(guān)鍵特性——負(fù)載效應(yīng)。理想情況下,我們希望我們的測量設(shè)備的阻抗無窮大,這樣測試設(shè)備的接入就不會對被測系統(tǒng)產(chǎn)生任何影響,從而保證測量的真實(shí)性。
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