ZA-218T銳科管熔斷測(cè)試儀電流150A可定制使用智能絲測(cè)試儀是一款用于小型熔斷器性能測(cè)試的用儀器,用于管熔斷時(shí)間、熔斷電流的檢測(cè),
滿足標(biāo)準(zhǔn)G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的熔斷、耐久性試驗(yàn)要求。
本儀器采用7寸顯示觸摸屏顯示和參數(shù)設(shè)置,采用ARM控制器進(jìn)行控制采集,試驗(yàn)電流高達(dá)200A的試驗(yàn)設(shè)備。
具有操作簡(jiǎn)便,智能可靠等特點(diǎn)。
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項(xiàng)目 |
要求及指標(biāo) |
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輸入電壓范圍 |
220V±10﹪,50Hz/60Hz |
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測(cè)試電流范圍 |
0.5~150A,1﹪RD±0.2﹪fs |
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測(cè)試開(kāi)路電壓精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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試驗(yàn)?zāi)J?/span> |
熔斷時(shí)間測(cè)試 M1和耐久性測(cè)試M2 |
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測(cè)試時(shí)間范圍
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M1 模式時(shí)間范圍:10mS--60分鐘 M2 模式時(shí)間范圍:10mS--100小時(shí) |
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耐久性時(shí)間設(shè)置 |
0~99H59M |
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次數(shù)設(shè)置 |
0~9999次 |
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時(shí)間分辨率 |
10ms |
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測(cè)試電流步 |
50mA~1A,可設(shè)置 |
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測(cè)試電流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA(‘SET’為設(shè)置數(shù)值), M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA(‘SET’為設(shè)置數(shù)值) |
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測(cè)試時(shí)間精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD(‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值), M2 模式<±10mS+0.5﹪RD(‘RD’為實(shí)際工作時(shí)間數(shù)值) |
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顯示方式 |
7 寸觸摸屏顯示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盤拷貝試驗(yàn)數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)保存功能,免費(fèi)開(kāi)放通信接口及提供底層通信協(xié)議 |
無(wú)論您要布局新的商用電力或暖通空調(diào)系統(tǒng),還是想改造現(xiàn)有設(shè)置,其過(guò)程都既漫長(zhǎng)又無(wú)聊。通過(guò)在工具包中添加激光水平儀,您的工作將變得快速、準(zhǔn)確。但現(xiàn)有的一些激光水平儀很容易斷開(kāi),并且會(huì)在正常的操作過(guò)程中失去校準(zhǔn)。福祿克認(rèn)識(shí)到現(xiàn)有激光水平儀與人員真正需要的激光水平儀之間存在差距,決心提供一套業(yè)級(jí)別的激光水平儀,使其擁有眾所周知的準(zhǔn)確性、可靠性和耐用性。這些福祿克激光水平儀通過(guò)了嚴(yán)格測(cè)試,證明能夠承受一米的跌落沖擊。目標(biāo)信號(hào)變得相干或相關(guān),但不會(huì)恢復(fù)失真項(xiàng)。在測(cè)試中實(shí)現(xiàn)的修改方法是將每個(gè)本振(LO)頻率合成器設(shè)置為不同的頻率,然后在數(shù)字處理過(guò)程中以數(shù)字方式調(diào)諧數(shù)控振蕩器(NCO),以校正修改。所示為ADI公司收發(fā)器ADRV9009的功能框圖。每個(gè)波形發(fā)生器或接收器都是用直接變頻架構(gòu)實(shí)現(xiàn)的。DanielRabinkin的文章《前端非線性失真與陣列波形合成》詳細(xì)地討論了各種直接變頻架構(gòu)。4LO頻率可以立編程到各IC上。 http://fx-arc.cn