ZA-670H中岸絲測試儀電流150A可定制使用智能絲測試儀是一款用于小型熔斷器性能測試的用儀器,用于管熔斷時間、熔斷電流的檢測,
滿足標(biāo)準(zhǔn)G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的熔斷、耐久性試驗要求。
本儀器采用7寸顯示觸摸屏顯示和參數(shù)設(shè)置,采用ARM控制器進(jìn)行控制采集,試驗電流高達(dá)200A的試驗設(shè)備。
具有操作簡便,智能可靠等特點。
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項目 |
要求及指標(biāo) |
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輸入電壓范圍 |
220V±10﹪,50Hz/60Hz |
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測試電流范圍 |
0.5~150A,1﹪RD±0.2﹪fs |
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測試開路電壓精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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試驗?zāi)J?/span> |
熔斷時間測試 M1和耐久性測試M2 |
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測試時間范圍
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M1 模式時間范圍:10mS--60分鐘 M2 模式時間范圍:10mS--100小時 |
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耐久性時間設(shè)置 |
0~99H59M |
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次數(shù)設(shè)置 |
0~9999次 |
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時間分辨率 |
10ms |
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測試電流步 |
50mA~1A,可設(shè)置 |
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測試電流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA(‘SET’為設(shè)置數(shù)值), M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA(‘SET’為設(shè)置數(shù)值) |
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測試時間精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD(‘RD’為實際工作時間數(shù)值), M2 模式<±10mS+0.5﹪RD(‘RD’為實際工作時間數(shù)值) |
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顯示方式 |
7 寸觸摸屏顯示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盤拷貝試驗數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)保存功能,免費(fèi)開放通信接口及提供底層通信協(xié)議 |
以下是這個系列的直流電子負(fù)載在汽車電子行業(yè)的發(fā)電機(jī)測試中應(yīng)用的具體案例。直流電子負(fù)載在發(fā)電機(jī)測試的應(yīng)用案例在進(jìn)行發(fā)電機(jī)測試時,需要電子負(fù)載能夠從發(fā)電機(jī)的怠速到全速分為四個不同的項目,模擬發(fā)電機(jī)在汽車運(yùn)行時各種狀況下的發(fā)電性能。在這整個的過程當(dāng)中,需要實時觀測電壓和電流數(shù)據(jù),傳統(tǒng)的負(fù)載箱是不能滿足這一要求的,且測試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確,所以就必須要使用業(yè)的電子負(fù)載來進(jìn)行測試。那么,又為什么要選用艾德克斯ITECH的這款電子負(fù)載系列來進(jìn)行汽車發(fā)電機(jī)的測試呢?原因就是它不僅滿足測試需求,而且優(yōu)勢非常顯著。微分結(jié)構(gòu)函數(shù)中,波峰與波谷的拐點就是兩種結(jié)構(gòu)的分界處,便于識別器件內(nèi)部的各層結(jié)構(gòu)。在結(jié)構(gòu)函數(shù)的末端,其值趨向于一條垂直的漸近線,此時代表熱流傳導(dǎo)到了空氣層,由于空氣的體積無窮大,因此熱容也就無窮大。從原點到這條漸近線之間的x值就是結(jié)區(qū)到空氣環(huán)境的熱阻,也就是穩(wěn)態(tài)情況下的熱阻。利用結(jié)構(gòu)函數(shù)識別器件封裝內(nèi)部的“缺陷”:對比上面兩個器件的剖面結(jié)構(gòu),固晶層可見明顯差異。如下圖,左邊為正常產(chǎn)品,右邊為固晶層有缺陷的產(chǎn)品。 http://fx-arc.cn